PCB阻抗测试及报告

现在测试PCB阻抗的仪器主要有两种：基于采样示波器的时域反射计TDR和基于网络分析仪的ENA-TDR。

一、基于采样示波器的时域反射计TDR

TDR测试目前主要使用于PCB(印制电路板)信号线、以及器件阻抗的测试。影响TDR测试精度有很多的原因，主要有反射、校准、读数选择等，反射会导致较短的PCB信号线测试值出现严重偏差，特别是在使用TIP(探针)去测试的情况下更为明显，因为TIP和信号线接触点会导致很大的阻抗不连续，导致反射发生，并导致附近三、四英寸左右范围的PCB信号线的阻抗曲线起伏。

典型的TDR系统是由一台高速阶跃脉冲信号发生器与一个高速的取样头组成的。阶跃脉冲的上升时间决定TDR设备分辨阻抗不连续性的能力；阻抗变化位置的准确程度（即测试时间）则由高速取样头来决定。

二、基于网络分析仪的ENA-TDR

网络分析仪VNA 是测量被测件（DUT）频率响应的仪器，测量的时候给被测器件输入一个正弦波激励信号，然后通过计算输入信号与传输信号或反射信号之间的矢量幅度比，得到测量结果；在测量的频率范围内对输入的信号进行扫描就可以获得被测器件的频率响应特性；在测量接收机中使用带通滤波器可以把噪声和不需要的信号从测量结果中去掉，提高测量精度。

业界采用了许多校准方法来保证TDR测量的精度，主要有：
1：偏置校准方法（适用于基于采样示波器的TDR）
2：归一化校准方法（适用于基于采样示波器的TDR）
3：电子校准件SOLT校准方法（适用于基于网络分析仪的ENA-TDR）