电路板的表面处理

2020-05-19 12:01:49 383

一、结构与材料

(一)、现行P-BGA各式封装已日趋複杂

但其球距与球径尚仍按JEDEC之规定,球径与球距之关系见下表。至于载板植球之焊垫系採SMD绿漆设限方式、而下游PCB板面之组装,则可採焊接强度较好的NSMD做法。

 

手机所用CSP

图1、此为手机所用CSP

 

(二)、通常PCB面上的球垫(Pad,为NSMD者)要比球径缩小2 5%

密距者只能小到2 0%。焊温中的垮球会使直径变大约3 6%,此种矮化还可补偿共面性之不足。但却会将球脚之空间距离拉近,一旦球脚中空洞太大时,还可能造成彼此相接的短路。

 

FC封装的简示过程

图2、图为FC封装的简示过程

 

BGA在PCB板面完成组装后其球脚的示意图

图3、图为BGA在PCB板面完成组装后其球脚的示意图

 

(三)、胶封P-BGA外形之大小

可从4mmX4mm—路增大到50mmX 50mm ,甚至还有长方型的商品,密距者外形多在21mmX21mm以下。电脑主机板上常见者(如CPU、北桥与南桥等三颗)其尺寸分别为35 X 35或27 X27 。手执电子品记忆体BGA多为迭晶式封装, 甚至折迭式或T-BGA等又小又薄之特殊产品。

 

左图为传统式单层铜的早先载板,右图为传统双层铜式之入内载板

图4、左图为传统式单层铜的早先载板,右图为传统双层铜式之入内载板。

 

叠晶封装之两种型式

图5、此为叠晶封装之两种型式

 

体冗之迭晶情形

图6、此为体冗之迭晶情形

 

新式增层法之载板结构

图7、此为新式增层法之载板结构

 

(四)、各式P-BGA所用载版之板材以BT为主

T-BGA另以PI板材为主,主要考虑为耐热性、电性,硬挺性、吸水性等,见下表。

表格

 

二、表面处理

(一)、有机载板也属PCB的一种

其各种表面处理与电路板做法完全相同,常见者,其中需顶面打线者,只有电镀镍与金一种。目前已有人嚐试顶面仍维持电镀镍金,但底面却试想改为OSP,以加强无铅焊接的可靠度。现行SF有下列6种。

 

(二)、载板之电镀镍金是兼顾封装及组装之双重目的

现行之电镀镍与电镀软金。就其腹底于氮气中之植球而言,通常其镀金层都显得太厚,以致后续经常发生"金脆"式的銲点断裂。 一般銲点中的金含量只要超出塡锡体重量比之3%时,就容易发生此种断裂。注意黄金的比重是19.3 ,小焊垫或独立区稍厚的金层,很容易就会超过3%的危险指标。目前已有载板业者希望将腹底球垫改为OSP处理,让后续载板自PCB上断颈掉头的机率降低,但双面不同处理自必会成本上升。

 

打线式的BGA或CSP

图8、通常打线式的BGA或CSP,其表面处理一定是电镀镍与电镀金,

金层较厚对打线当然有利,但对焊接强度却非常不好。

此三图均为编者所製作,

可以清楚看出銲点只是暂时生长在金面上,并未与镍层做Ni3Sn4的牢固结合。

 

(三)、现行第五代OSP应可耐得住三次焊接

但吸水后其耐热性质将变差,助焊剂未涂佈处当然无法焊满,且OSP皮膜一旦接触到醇类时亦将被洗掉,下游业者必须要小心。

 

OSP表面处理焊接中遭到助焊剂的驱逐而让棵铜面被迅速焊牢的过程

图9、此为OSP表面处理焊接中遭到助焊剂的驱逐而让棵铜面被迅速焊牢的过程。

 

(四)、化镍浸金

自1995年从HP公司揭发黑垫的论文以来,其于各种焊接的场合不断出现黑垫之脱落情形,至今仍无太好的对策。是故建议各种焊垫表面处理最好不要使用ENIG,即使必须要用到时,其EN槽液也不宜超过四个MTO或改用高磷者,且金层厚度不宜超过3 μm。但做为触接与打线而言,ENIG仍为良好的选择。下四图即为黑垫的说明。

良好表面形貌的放大图

图10、左上图为良好表面形貌的放大图,右上为不良化镍在其晶粒间疆界处已发生黑垫的病症。

右下图为已发生黑垫不良ENIG层之剖面放大画面。

当镍面在进行置换式浸镀金时,金水会沿著疆界而刺入深处并加宽疆界而在后续应用中更形恶化。

标签: pcba

微信公众号